XPS, XRF and AFM analysis of SrS:Ce thin films

H. Heikkinen, M. Peussa, H. Kotilainen, K. Kukli, E. Nykänen, L. Niinistö

    Tutkimustuotos: TyöpaperiWorking paperProfessional

    AlkuperäiskieliEnglanti
    Sivut25
    TilaJulkaistu - 1997
    OKM-julkaisutyyppiD4 Julkaistut kehitykset tai tutkimusraportit tai tutkimukset

    Julkaisusarja

    NimiFinnish Chemical Congress and Exhibition, Helsinki, Finland, 11.-13.11.1997
    KustantajaThe Association of Finnish Chemical Societies

    Tutkimusalat

    • AFM
    • atomic layer epitaxy
    • strontium sulfide
    • thin film
    • XPS
    • XRF

    Siteeraa tätä