X-ray photoelectron spectroscopy in the study of LaNiO3 thin films grown in an ALE reactor

L.-S. Johansson, Minna Nieminen, L. Niinistö

    Tutkimustuotos: TyöpaperiWorking paperProfessional

    AlkuperäiskieliEnglanti
    JulkaisupaikkaHelsinki
    Sivut17
    TilaJulkaistu - 1996
    OKM-julkaisutyyppiD4 Julkaistu kehittämis- tai tutkimusraportti taikka -selvitys

    Julkaisusarja

    NimiThe 9th Symposium on Inorganic and Analytical Chemistry, Helsinki, 24.5.1996
    KustantajaDepartment of Chemistry, University of Helsinki

    Tutkimusalat

    • ale
    • atomic layer epitaxy
    • esca
    • thin film
    • xps

    Siteeraa tätä