X-ray Diffraction Reciprocal Space Mapping Study of Modulated Crystal Structures in 10M Ni-Mn-Ga Martensitic Phase

Yanling Ge, Ilkka Aaltio, Outi Söderberg, Simo-Pekka Hannula

Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

3 Sitaatiot (Scopus)
AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut63-68
Sivumäärä6
JulkaisuMaterials Science Forum
Vuosikerta635
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2010
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä

Tutkimusalat

  • Ni-Mn-Ga; X-ray diffraction (XRD); reciprocal space mapping (RMS)
  • reciprocal space mapping (RMS)
  • X-ray diffraction (XRD)

Siteeraa tätä