X-Ray diffraction and Raman investigations of thickness dependent stress effects on Pb(Zrx Ti1-x)O3 thin films

Jyrki Lappalainen, V. Lantto, J. Frantti, J. Hiltunen

Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

11 Sitaatiot (Scopus)
AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut252901
JulkaisuApplied Physics Letters
Numero88
TilaJulkaistu - 2006
OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

Siteeraa tätä