X-Ray diffraction and Raman investigations of thickness dependent stress effects on Pb(Zrx Ti1-x)O3 thin films

Jyrki Lappalainen, V. Lantto, J. Frantti, J. Hiltunen

Tutkimustuotos: Lehtiartikkeli › Article › Scientific › vertaisarvioitu

11 Sitaatiot (Scopus)

Alkuperäiskieli	Englanti
Sivut	252901
Julkaisu	Applied Physics Letters
Numero	88
Tila	Julkaistu - 2006
OKM-julkaisutyyppi	A1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

Siteeraa tätä

@article{c005a513d8854d88ab198f04217bbdaf,

title = "X-Ray diffraction and Raman investigations of thickness dependent stress effects on Pb(Zrx Ti1-x)O3 thin films",

author = "Jyrki Lappalainen and V. Lantto and J. Frantti and J. Hiltunen",

year = "2006",

language = "English",

pages = "252901",

journal = "Applied Physics Letters",

issn = "0003-6951",

number = "88",

}