Why learning from failure isn’t easy (and what to do about it): Innovation trauma at Sun Microsystems

L. Välikangas, M. Hoegl, M. Gibbert

Tutkimustuotos: Lehtiartikkeli › Article › Scientific › vertaisarvioitu

35 Sitaatiot (Scopus)

Alkuperäiskieli	Englanti
Sivut	225-233
Julkaisu	European Management Journal
Vuosikerta	27
Tila	Julkaistu - 2009
OKM-julkaisutyyppi	A1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

Siteeraa tätä

@article{8547c50fd4764717aab1855b8cf02317,

title = "Why learning from failure isn{\textquoteright}t easy (and what to do about it): Innovation trauma at Sun Microsystems",

author = "L. V{\"a}likangas and M. Hoegl and M. Gibbert",

year = "2009",

language = "English",

volume = "27",

pages = "225--233",

journal = "European Management Journal",

issn = "0263-2373",

publisher = "Elsevier Limited",

}