Why learning from failure isn’t easy (and what to do about it): Innovation trauma at Sun Microsystems

L. Välikangas, M. Hoegl, M. Gibbert

Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

35 Sitaatiot (Scopus)
AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut225-233
JulkaisuEuropean Management Journal
Vuosikerta27
TilaJulkaistu - 2009
OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

Siteeraa tätä