Wafer-scale graphene quality assessment using micro four-point probe mapping

David M.A. Mackenzie, Kristoffer G. Kalhauge, Patrick R. Whelan, Frederik W. Østergaard, Iwona Pasternak, Wlodek Strupinski, Peter Bøggild, Peter U. Jepsen, Dirch H. Petersen

Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

6 Sitaatiot (Scopus)
45 Lataukset (Pure)

Hakutulokset