Alkuperäiskieli | Englanti |
---|---|
Otsikko | Proc. of the XXXVII Annual Conference of the Finnish Physical Society |
Toimittajat | T. Sundius, El Edelmann, M. Hyvönen-Dabek |
Julkaisupaikka | Helsinki |
Kustantaja | University of Helsinki |
Sivut | 10 |
Painos | volume HU-P-265 |
Tila | Julkaistu - 2003 |
OKM-julkaisutyyppi | A3 Kirjan tai muun kokoomateoksen osa |
Visualization and tracking of crystal defects
Marco Patriarca, Antti Kuronen, Kimmo Kaski
Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussa › Chapter › Scientific › vertaisarvioitu