Visual Saliency and Categorisation of Abstract Images

Mari Laine-Hernandez; Juha Teemu Ensio Kinnunen; Joni-Kristian Kämäräinen; Lasse Lensu; Heikki Kälviäinen; Pirkko Oittinen

Visual Saliency and Categorisation of Abstract Images

Mari Laine-Hernandez, Juha Teemu Ensio Kinnunen, Joni-Kristian Kämäräinen, Lasse Lensu, Heikki Kälviäinen, Pirkko Oittinen

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussa › Conference article in proceedings › Scientific › vertaisarvioitu

1 Sitaatiot (Scopus)

Alkuperäiskieli	Englanti
Otsikko	21st International Conference on Pattern Recognition (ICPR 2012); Tsukuba, Japan; November 11-15, 2012
Tila	Julkaistu - 2012
OKM-julkaisutyyppi	A4 Artikkeli konferenssijulkaisussa

Muut tiedostot ja linkit

Link to publication in Scopus

Siteeraa tätä

@inproceedings{700f774d157844539f38734dc9e65d2c,

title = "Visual Saliency and Categorisation of Abstract Images",

author = "Mari Laine-Hernandez and Kinnunen, \{Juha Teemu Ensio\} and Joni-Kristian K{\"a}m{\"a}r{\"a}inen and Lasse Lensu and Heikki K{\"a}lvi{\"a}inen and Pirkko Oittinen",

note = "VK: Oittinen",

year = "2012",

language = "English",

booktitle = "21st International Conference on Pattern Recognition (ICPR 2012); Tsukuba, Japan; November 11-15, 2012",

}

Visual Saliency and Categorisation of Abstract Images. / Laine-Hernandez, Mari; Kinnunen, Juha Teemu Ensio; Kämäräinen, Joni-Kristian et al.
21st International Conference on Pattern Recognition (ICPR 2012); Tsukuba, Japan; November 11-15, 2012. 2012.

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussa › Conference article in proceedings › Scientific › vertaisarvioitu

TY - GEN

T1 - Visual Saliency and Categorisation of Abstract Images

AU - Laine-Hernandez, Mari

AU - Kinnunen, Juha Teemu Ensio

AU - Kämäräinen, Joni-Kristian

AU - Lensu, Lasse

AU - Kälviäinen, Heikki

AU - Oittinen, Pirkko

N1 - VK: Oittinen

PY - 2012

Y1 - 2012

UR - https://www.scopus.com/pages/publications/84874558917

M3 - Conference article in proceedings

BT - 21st International Conference on Pattern Recognition (ICPR 2012); Tsukuba, Japan; November 11-15, 2012

ER -