Validity of Measuring Metallic and Semiconducting Single-Walled Carbon Nanotube Fractions by Quantitative Raman Spectroscopy

Ying Tian*, Hua Jiang, Patrik Laiho, Esko I. Kauppinen

*Tämän työn vastaava kirjoittaja

Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

14 Sitaatiot (Scopus)

Projektit

  • 1 Päättynyt
Päättynyt

Carbon Nanotube Thin Film Transistors for Future Large Area Electronics

Kauppinen, E.

01/07/201330/04/2016

Projekti: Business Finland: Other research funding