Validity of Measuring Metallic and Semiconducting Single-Walled Carbon Nanotube Fractions by Quantitative Raman Spectroscopy

Ying Tian*, Hua Jiang, Patrik Laiho, Esko I. Kauppinen

*Tämän työn vastaava kirjoittaja

Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

15 Sitaatiot (Scopus)

Hakutulokset