Validation of Nonlinear Bipolar Transistor Model by Small-Signal Measurements

Veikko Porra, Jens Vidkjaer, Jun Zhu, Timo Huttunen

    Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussaConference contributionScientificvertaisarvioitu

    AlkuperäiskieliEnglanti
    Otsikko22th European Microwave Conference, Espoo, 8/92
    Sivut1217-1222
    TilaJulkaistu - 1992
    OKM-julkaisutyyppiA4 Artikkeli konferenssijulkaisuussa

    Siteeraa tätä