Abstrakti
Epitaxial thin film CuGaSe2 and CuInSe2 samples grown on GaAs substrates with varying [Cu]/[Ga,In] ratios were studied using positron annihilation Doppler-broadening spectroscopy and were compared to bulk crystals. We find both Cu monovacancies and Cu-Se divacancies in CuInSe2, whereas, in CuGaSe2, the only observed vacancy defect is the Cu-Se divacancy.
Alkuperäiskieli | Englanti |
---|---|
Artikkeli | 064102 |
Sivut | 1-5 |
Sivumäärä | 5 |
Julkaisu | Physical Review B |
Vuosikerta | 86 |
Numero | 6 |
DOI - pysyväislinkit | |
Tila | Julkaistu - elokuuta 2012 |
OKM-julkaisutyyppi | A1 Julkaistu artikkeli, soviteltu |
Tutkimusalat
- CGS
- CIGS
- CIS
- positron