Vacancy defects in c-Si: electronic and ionic structures

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussa › Chapter › Scientific › vertaisarvioitu

Alkuperäiskieli	Englanti
Otsikko	Properties of Crystalline Silicon, EMIS Datareviews Series No. 20
Toimittajat	R. Hull
Julkaisupaikka	London, United Kingdom
Kustantaja	Institution of Electrical Engineers (IEE)
Sivut	309
Tila	Julkaistu - 1999
OKM-julkaisutyyppi	A3 Kirjan tai muun kokoomateoksen osa

Siteeraa tätä

@inbook{72434c18f231454689a6d4d0a9b90d0a,

title = "Vacancy defects in c-Si: electronic and ionic structures",

author = "R.M. Nieminen and M.J. Puska",

year = "1999",

language = "English",

pages = "309",

editor = "R. Hull",

booktitle = "Properties of Crystalline Silicon, EMIS Datareviews Series No. 20",

publisher = "Institution of Electrical Engineers (IEE)",

address = "United Kingdom",

}