Vacancy defects in c-Si: electronic and ionic structures

R.M. Nieminen, M.J. Puska

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussaChapterScientificvertaisarvioitu

AlkuperäiskieliEnglanti
OtsikkoProperties of Crystalline Silicon, EMIS Datareviews Series No. 20
ToimittajatR. Hull
JulkaisupaikkaLondon, United Kingdom
KustantajaINSPEC, The Institution of Electrical Engineers
Sivut309
TilaJulkaistu - 1999
OKM-julkaisutyyppiA3 Kirjan osa tai toinen tutkimuskirja

Siteeraa tätä

Nieminen, R. M., & Puska, M. J. (1999). Vacancy defects in c-Si: electronic and ionic structures. teoksessa R. Hull (Toimittaja), Properties of Crystalline Silicon, EMIS Datareviews Series No. 20 (Sivut 309). INSPEC, The Institution of Electrical Engineers.