Uusia mikroskopiatekniikoita kehitetään Teknillisessä korkeakoulussa

I. Penttinen, A.S. Korhonen

    Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

    AlkuperäiskieliEnglanti
    Sivut82-83
    JulkaisuVuoriteollisuus
    Numero53
    TilaJulkaistu - 1995
    OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

    Tutkimusalat

    • metallurgy
    • scanning force microscopy

    Siteeraa tätä