Using ISIT as a Probe to establish Critical Roughness – film thickness relationship

Mika Anttila, Martti Toivakka, Patrick Gane

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussaConference article in proceedingsScientificvertaisarvioitu

Sormenjälki

Sukella tutkimusaiheisiin 'Using ISIT as a Probe to establish Critical Roughness – film thickness relationship'. Ne muodostavat yhdessä ainutlaatuisen sormenjäljen.

Engineering

Material Science