Unambiguous interpretation of atomically resolved force microscopy images of an insulator

A. S. Foster, C. Barth, A. L. Shluger, M. Reichling

Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut2373-2376
Sivumäärä4
JulkaisuPhysical Review Letters
Vuosikerta86
Numero11
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2001
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä

Tutkimusalat

  • AFM
  • Insulators
  • Simulation

Siteeraa tätä