Two differential open resonator techniques for measuring dielectric constants of thin films onsubtrates

Sergey N. Dudorov, Dmitri V. Lioubtchenko, Juha A. Mallat, Antti V. Räisänen

    Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussaConference contributionScientificvertaisarvioitu

    AlkuperäiskieliEnglanti
    Otsikko35th European Microwave Conference, Paris, France, October 3-7, 2005
    JulkaisupaikkaParis, France
    Sivut365-367
    TilaJulkaistu - 2005
    OKM-julkaisutyyppiA4 Artikkeli konferenssijulkaisuussa

    Tutkimusalat

    • open resonator
    • permittivity
    • thin film

    Siteeraa tätä