Traceability of laser frequency calibrations at MIKES

Mikko Merimaa, Kaj Nyholm, Markku Vainio, Antti Lassila

Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

15 Sitaatiot (Scopus)
AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut500-504
JulkaisuIEEE Transactions on Instrumentation and Measurement
Vuosikerta56
Numero2
TilaJulkaistu - 2007
OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

Siteeraa tätä