Siirry päänavigointiin Siirry hakuun Siirry pääsisältöön

Traceability and mutual Recognition of Impulse Voltage Measurements.

  • M. Aro
  • , J. Hällström

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussa › Conference article in proceedings › Scientific › vertaisarvioitu

AlkuperäiskieliEnglanti
OtsikkoIEC TC 42, Kioto, 18.-20.10.1999
Sivut3
TilaJulkaistu - 1999
OKM-julkaisutyyppiA4 Artikkeli konferenssijulkaisussa

Tutkimusalat

  • high voltage
  • traceability

Siteeraa tätä