| Alkuperäiskieli | Englanti |
|---|---|
| Otsikko | IEC TC 42, Kioto, 18.-20.10.1999 |
| Sivut | 3 |
| Tila | Julkaistu - 1999 |
| OKM-julkaisutyyppi | A4 Artikkeli konferenssijulkaisussa |
Tutkimusalat
- high voltage
- traceability
Siteeraa tätä
- APA
- Author
- BIBTEX
- Harvard
- Standard
- RIS
- Vancouver