Towards an atomic-scale understanding of metal-oxide/water interfaces

Eero Holmström, Adam Foster, Peter Spijker, Seiji Kawasaki, Hiroshi Onishi, Mikk Lippmaa, Hitoshi Asakawa, Toshitaka Yamamura, Takeshi Fukuma, Teruhisa Ohno

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussaKonferenssiesitysScientific

AlkuperäiskieliEnglanti
TilaJulkaistu - 29 kesäkuuta 2016
TapahtumaInternational Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy - Nottingham, Iso-Britannia
Kesto: 25 heinäkuuta 201629 heinäkuuta 2016
Konferenssinumero: 19

Conference

ConferenceInternational Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy
LyhennettäNCAFM
MaaIso-Britannia
KaupunkiNottingham
Ajanjakso25/07/201629/07/2016

Siteeraa tätä