Topography imaging of defects in GaAs on Ge

Aapo Lankinen, Turkka Tuomi, Lauri Knuuttila, Pasi Kostamo, Antti Säynätjoki, Harri Lipsanen, P.J. McNally, X. lu

    Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussaChapterScientificvertaisarvioitu

    AlkuperäiskieliEnglanti
    OtsikkoHASYLAB Annual report 2005, Part I
    JulkaisupaikkaHampuri, Saksa
    KustantajaHASYLAB
    Sivut561-562
    TilaJulkaistu - 2006
    OKM-julkaisutyyppiA3 Kirjan osa tai toinen tutkimuskirja

    Siteeraa tätä

    Lankinen, A., Tuomi, T., Knuuttila, L., Kostamo, P., Säynätjoki, A., Lipsanen, H., ... lu, X. (2006). Topography imaging of defects in GaAs on Ge. teoksessa HASYLAB Annual report 2005, Part I (Sivut 561-562). Hampuri, Saksa: HASYLAB.