Tiled wing induced stress distribution in epitaxiallateral ovegrown GaN

W.M. Chen, P.J. McNally, K. Jacobs, Turkka Tuomi, J. Kanatharana, D. Lowney, L. Knuuttila, J. Riikonen, J. Toivonen

    Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

    3 Sitaatiot (Scopus)
    AlkuperäiskieliEnglanti
    Sivut283-286
    JulkaisuJournal of Materials Science: Materials in Electronics
    Numero14
    TilaJulkaistu - 2003
    OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

    Tutkimusalat

    • GaN
    • strain
    • synchrotron x-ray topography

    Siteeraa tätä