Three ranges of the angular dependence of critical current of BaZrO3 doped YBa2Cu3O7-(delta) thin films grown at different temperatures

Tutkimustuotos: Lehtiartikkelivertaisarvioitu

Tutkijat

Organisaatiot

  • University of Turku

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut554-560
Sivumäärä7
JulkaisuThin Solid Films
Vuosikerta562
TilaJulkaistu - 2014
OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

    Tutkimusalat

  • columnar defects, flux pinning, superconductor, TEM, thin films

ID: 847190