Thickness measurement of thin polymer films by total internal reflection Raman and attenuated total reflection infrared spectroscopy

Antti Kivioja, Anna-Stiina Jääskeläinen, Ville Ahtee, Tapani Vuorinen

    Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

    11 Sitaatiot (Scopus)
    AlkuperäiskieliEnglanti
    Sivut1-9
    JulkaisuVibrational Spectroscopy
    Numero31
    DOI - pysyväislinkit
    TilaJulkaistu - 2012
    OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

    Tutkimusalat

    • Attenuated total reflection infrared spectroscopy
    • ellipsometry
    • thickness
    • Thin film
    • Total internal reflection Raman spectroscopy
    • ultra-thin film

    Siteeraa tätä