Thermal Characterization of THz Schottky Diodes using Transient Current Measurements

S. Khanal, T. Kiuru, A.Y. Tang, M.A. Saber, J. Mallat, J. Stake, Tapani Närhi, A.V. Räisänen

Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

6 Sitaatiot (Scopus)
AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut267-276
JulkaisuIEEE Transactions on Terahertz Science and Technology
Vuosikerta4
Numero2
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2014
OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

Tutkimusalat

  • junction temperature
  • Schottky diode
  • thermal impedance
  • thermal parameters
  • thermal resistance
  • thermal time constant
  • transient measurements

Siteeraa tätä