Thermal characterisation as a part of reliability testing of THz Schottky diodes

Tero Kiuru, Subash Khanal, Juha Mallat, Antti V. Räisänen, Tapani Närhi

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussaConference contributionScientific

AlkuperäiskieliEnglanti
OtsikkoXXXIII Finnish URSI Convention on Radio Science and SMARAD Seminar, Espoo, Finland, April 24-25, 2013
ToimittajatHenrik Wallén, Ari Sihvola
JulkaisupaikkaEspoo, Finland
KustantajaURSI Finnish National Committee and SMARAD
Sivut121-123
TilaJulkaistu - 2013
OKM-julkaisutyyppiB3 Ei-soviteltu artikkeli konferenssin julkaisusarjassa

Siteeraa tätä