Siirry päänavigointiin Siirry hakuun Siirry pääsisältöön

The use of neighbourhood intensity comparisons, morphological gradients and Fourier analysis for automated precipitate counting & Pendellösung fringe analysis in X-ray topography

  • T. Tuomi
  • , G. Murphy
  • , P.F Whelan
  • , P.J McNally
  • , R. Simon

    Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

    AlkuperäiskieliEnglanti
    Sivut443-446
    JulkaisuEuropean Physical Journal: Applied Physics
    Vuosikerta27
    TilaJulkaistu - 2004
    OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä

    Tutkimusalat

    • image processing
    • synchrotron x-ray topography

    Siteeraa tätä