The use of neighbourhood intensity comparisons, morphological gradients and Fourier analysis for automated precipitate counting & Pendellösung fringe analysis in X-ray topography

T. Tuomi, G. Murphy, P.F Whelan, P.J McNally, R. Simon

    Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

    AlkuperäiskieliEnglanti
    Sivut443-446
    JulkaisuEUROPEAN PHYSICAL JOURNAL: APPLIED PHYSICS
    Vuosikerta27
    TilaJulkaistu - 2004
    OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

    Tutkimusalat

    • image processing
    • synchrotron x-ray topography

    Siteeraa tätä