The role of the tip in non-contact atomic force microscopy dissipation images of ionic surfaces

Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

20 Sitaatiot (Scopus)
AlkuperäiskieliEnglanti
Artikkeli045702
Sivumäärä9
JulkaisuNanotechnology
Vuosikerta22
Numero4
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - tammikuuta 2011
OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

Tutkimusalat

  • AFM

Siteeraa tätä