The Impact of Subsrate Quality on the Reliablity of SiC Photodiode Operation

T. Tuomi, P.J McNally, L. "O'Reilly", J. Riikonen, P. Bergman, H. Jacobson, C. Hallin

    Tutkimustuotos: TyöpaperiWorking paperProfessional

    AlkuperäiskieliEnglanti
    JulkaisupaikkaHampuri
    TilaJulkaistu - 2004
    OKM-julkaisutyyppiD4 Julkaistut kehitykset tai tutkimusraportit tai tutkimukset

    Julkaisusarja

    NimiHASYLAB Annual Report 2004

    Tutkimusalat

    • silicon carbide
    • synchrotron x-ray topography

    Siteeraa tätä