The Effects of Prolonged Scanning on the Oxidized Stainless Steel Substrate during Scanning Tunneling Microscopy

K.A. Pischow, A.S. Korhonen, E.O. Ristolainen

    Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussaConference contributionScientificvertaisarvioitu

    AlkuperäiskieliEnglanti
    OtsikkoIVC-12/ICSS-8 Congress, 12-16 Oct., 1992, The Hague, The Netherlands
    TilaJulkaistu - 1992
    OKM-julkaisutyyppiA4 Artikkeli konferenssijulkaisuussa

    Siteeraa tätä