The effects of prolonged high-voltage STM scanning on an oxidized silicon wafer surface

Kaj Pischow, J.M. Molarius

    Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

    3 Sitaatiot (Scopus)
    AlkuperäiskieliEnglanti
    Sivut80-86
    JulkaisuNanotechnology
    Numero5
    TilaJulkaistu - 1994
    OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

    Tutkimusalat

    • silicon wafers
    • stm

    Siteeraa tätä