The Effects of Interfacial Reaction in the Formation of Ohmic Contacts GaAS

V. Fischer, P.H. Holloway, P.E. Viljonen, E.O. Ristolainen, T.W. Haas, W.V. Lampert, J.M. Woodall

    Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussaConference contributionScientificvertaisarvioitu

    AlkuperäiskieliEnglanti
    OtsikkoMRS, Pittsburgh, 1994
    ToimittajatS.P. Murarka, A. Katz, K.N. Tu, K. Maex
    Sivut413-419
    TilaJulkaistu - 1994
    OKM-julkaisutyyppiA4 Artikkeli konferenssijulkaisuussa

    Tutkimusalat

    • GaAs alloys
    • ohmic contact
    • semiconductor
    • SIMS

    Siteeraa tätä