TEM verification of optical diameter distribution analysis for nitrogen-doped SWCNT films

Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut17-21
JulkaisuJournal of Nanoelectronics and Optoelectronics
Vuosikerta7
Numero1
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2012
OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

Tutkimusalat

  • tubes

Siteeraa tätä