TEM verification of optical diameter distribution analysis for nitrogen-doped SWCNT films

T. Susi, Z. Zhu, Y. Tian, A.G. Nasibulin, H. Jiang, E.I. Kauppinen

Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

1 Sitaatiot (Scopus)
AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut17-21
JulkaisuJournal of Nanoelectronics and Optoelectronics
Vuosikerta7
Numero1
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2012
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä

Tutkimusalat

  • tubes

Siteeraa tätä