Tantalum-based diffusion barriers for copper metallization

T. Laurila, K. Zeng, J. Kivilahti

    Tutkimustuotos: TyöpaperiWorking paperProfessional

    AlkuperäiskieliEnglanti
    KustantajaTKK
    Sivumäärä37
    TilaJulkaistu - 1999
    OKM-julkaisutyyppiD4 Julkaistut kehitykset tai tutkimusraportit tai tutkimukset

    Julkaisusarja

    NimiReport series HUT-EPT
    Numero1

    Tutkimusalat

    • copper
    • diffusion barrier
    • tantalum
    • thermodynamics

    Siteeraa tätä