Synchrotron x-ray topography study of defects in epitaxial GaAs on high-quality Ge

Tutkimustuotos: Lehtiartikkelivertaisarvioitu

Tutkijat

  • Aapo Lankinen
  • Lauri Knuuttila
  • Turkka Tuomi
  • Pasi Kostamo
  • Antti Säynätjoki
  • Juha Riikonen
  • Harri Lipsanen

  • P.J. McNally
  • X. Lu
  • H. Sipilä
  • S. Vaijärvi
  • D. Lumb

Organisaatiot

  • Dublin City University
  • Oxford Instruments Analytical Oy
  • Directorate of Science European Space Research and Technology Centre (ESA/ESTEC) Noordwijk

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut62-65
Sivumäärä4
JulkaisuNUCLEAR INSTRUMENTS AND METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION A: ACCELERATORS SPECTROMETERS DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT
Vuosikerta563
Numero1
TilaJulkaistu - 1 heinäkuuta 2006
OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

ID: 3532288