Synchrotron x-ray topography study of defects in epitaxial GaAs on high-quality Ge

Aapo Lankinen, Lauri Knuuttila, Turkka Tuomi, Pasi Kostamo, Antti Säynätjoki, Juha Riikonen, Harri Lipsanen, P.J. McNally, X. Lu, H. Sipilä, S. Vaijärvi, D. Lumb

    Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

    4 Sitaatiot (Scopus)
    AlkuperäiskieliEnglanti
    Sivut62-65
    Sivumäärä4
    JulkaisuNUCLEAR INSTRUMENTS AND METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION A: ACCELERATORS SPECTROMETERS DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT
    Vuosikerta563
    Numero1
    DOI - pysyväislinkit
    TilaJulkaistu - 1 heinäkuuta 2006
    OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

    Siteeraa tätä