Synchrotron x-ray topographic study of dislocations and stacking faults in InAs

Aapo Lankinen, Turkka Tuomi, Juha Riikonen, Lauri Knuuttila, Harri Lipsanen, Markku Sopanen, A. Danilewsky, J. McNally, L. "O'Reilly", Y. Zhilyaev, L. Fedorov, H. Sipilä, S. Vaijärvi, R. Simon, D. Lumb, A. Owens

    Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

    1 Sitaatiot (Scopus)
    AlkuperäiskieliEnglanti
    Sivut320-327
    Sivumäärä8
    JulkaisuJournal of Crystal Growth
    Vuosikerta283
    Numero3-4
    DOI - pysyväislinkit
    TilaJulkaistu - 1 lokakuuta 2005
    OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

    Tutkimusalat

    • chloride vapor-phase epitaxy
    • crystal defects
    • semiconducting indium compounds
    • x-ray detectors
    • X-ray topography

    Siteeraa tätä