Synchrotron X-ray Topographic Studies of InP Layers Grown Laterally on Si Substrates by Vapour Phase Epitaxy

Aapo Lankinen, M. Karilahti, Turkka Tuomi

    Tutkimustuotos: TyöpaperiWorking paperProfessional

    AlkuperäiskieliEnglanti
    JulkaisupaikkaHampuri
    Sivut399-400
    TilaJulkaistu - 2005
    OKM-julkaisutyyppiD4 Julkaistut kehitykset tai tutkimusraportit tai tutkimukset

    Julkaisusarja

    NimiHASYLAB Annual Reports 2005

    Tutkimusalat

    • InP Layers
    • Synchrotron x-ray

    Siteeraa tätä