Synchrotron X-Ray topographic analysis of globally available SiC wafers

Patric J. McNally, Ian Brazil, Lisa "O'Reilly", Andreas Danilewsky, Turkka O. Tuomi, Aapo Lankinen, Antti Säynätjoki, Stanislav Soloviev, Larry B. Rowland, Peter M. Sandvik

    Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussaChapterScientificvertaisarvioitu

    AlkuperäiskieliEnglanti
    OtsikkoHASYLAB Annual Report 2006 Part I
    JulkaisupaikkaHamburg, Germany
    KustantajaHamburger Synchrotronstrahlungslabor HASYLAB at Deutsches Elektronen-Synchrotron DESY
    Sivut743-744
    TilaJulkaistu - 2007
    OKM-julkaisutyyppiA3 Kirjan osa tai toinen tutkimuskirja

    Tutkimusalat

    • SiC
    • synchrotron topography

    Siteeraa tätä