Synchrotron Radiation X-Ray Topography and X-Ray Diffraction Investigation of Low Dislocation Density GaN

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussavertaisarvioitu

Tutkijat

Organisaatiot

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Otsikko16th Semiconducting and Insulating Materials Conference (SIMC-XVI); KTH, Tukholma,Ruotsi; 19.-23. Kesäkuuta 2011
TilaJulkaistu - 2011
OKM-julkaisutyyppiA4 Artikkeli konferenssijulkaisuussa

ID: 654962