Survey comparing Critical Path Method, Last Planner System, and Location-Based techniques

Hylton Olivieri, Olli Seppänen, Thais da C. L. Alves, Natalie Scala, Vincent Schiavone, Min Liu, Ariovaldo Denis Granja

Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

1 Sitaatiot (Scopus)
100 Lataukset (Pure)

Sormenjälki Sukella tutkimusaiheisiin 'Survey comparing Critical Path Method, Last Planner System, and Location-Based techniques'. Ne muodostavat yhdessä ainutlaatuisen sormenjäljen.

Engineering & Materials Science

Business & Economics