Structural Metrology of SWCNTs by Electron Diffraction

Hua Jiang, Albert G. Nasibulin, David P. Brown, Delphine Chassaing, Esko I. Kauppinen

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussaConference contributionScientificvertaisarvioitu

AlkuperäiskieliEnglanti
OtsikkoFirst International forum on metrology, standardization and industrial quality of nanotube, Rio de Janeiro, Brazil, June 22, 2007
ToimittajatProf. Ado Jorio
TilaJulkaistu - 2007
OKM-julkaisutyyppiA4 Artikkeli konferenssijulkaisuussa

Tutkimusalat

  • carbon nanotube
  • chirality
  • metrology
  • structure

Siteeraa tätä