SOM-based System for Web Surface Inspection

J. Iivarinen, J. Pakkanen, J. Rauhamaa

    Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussaConference article in proceedingsScientificvertaisarvioitu

    9 Sitaatiot (Scopus)
    AlkuperäiskieliEnglanti
    OtsikkoProc. SPIE 5303, Machine Vision Applications in Industrial Inspection XII, San Jose, California, January 21-22, 2004
    ToimittajatF. Mériaudeau J. R. Price
    Sivut178-187
    TilaJulkaistu - 2004
    OKM-julkaisutyyppiA4 Artikkeli konferenssijulkaisussa

    Tutkimusalat

    • content-based image retrieval
    • defect classification
    • MPEG-7
    • self-organizing map
    • surface defects
    • surface inspection

    Siteeraa tätä