Simulating atomic force microscopy imaging of the ideal and defected TiO2 (110) surface

A. S. Foster, O.H. Pakarinen, J.M. Airaksinen, J.D. Gale, R. M. Nieminen

Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

21 Sitaatiot (Scopus)
32 Lataukset (Pure)

Abstrakti

In this study we simulate noncontact atomic force microscopy imaging of the TiO2 (110) surface using first-principles and atomistic methods. We use three different tip models to investigate the tip-surface interaction on the ideal surface, and find that agreement with experiment is found for either a silicon tip or a tip with a net positive electrostatic potential from the apex. Both predict bright contrast over the bridging oxygen rows. We then study the interaction of this tip with a bridging oxygen vacancy on the surface, and find that the much weaker interaction observed would result in vacancies appearing as dark contrast along the bright rows in images.
AlkuperäiskieliEnglanti
Artikkeli195410
Sivut1-8
Sivumäärä8
JulkaisuPhysical Review B
Vuosikerta68
Numero19
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2003
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä

Tutkimusalat

  • AFM
  • Theory
  • TiO<sub>2</sub>

Sormenjälki

Sukella tutkimusaiheisiin 'Simulating atomic force microscopy imaging of the ideal and defected TiO2 (110) surface'. Ne muodostavat yhdessä ainutlaatuisen sormenjäljen.

Siteeraa tätä