Significant minority carrier lifetime improvement in red edge zone in n-type multicrystalline silicon

Ville Vähänissi, Marko Yli-Koski, Antti Haarahiltunen, Heli Talvitie, Yameng Bao, Hele Savin

Tutkimustuotos: Lehtiartikkeli › Article › Scientific › vertaisarvioitu

13 Sitaatiot (Scopus)
207 Lataukset (Pure)

Hakutulokset