Significant minority carrier lifetime improvement in red edge zone in n-type multicrystalline silicon

Ville Vähänissi, Marko Yli-Koski, Antti Haarahiltunen, Heli Talvitie, Yameng Bao, Hele Savin

Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

13 Sitaatiot (Scopus)
206 Lataukset (Pure)
AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut54-58
JulkaisuSolar Energy Materials and Solar Cells
Numero114
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2013
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä

Tutkimusalat

  • gettering
  • lifetime
  • n-type mc-Si
  • red zone

Siteeraa tätä