Second-harmonic generation imaging of semiconductor nanowires by focused vector beams

Tutkimustuotos: Lehtiartikkelivertaisarvioitu

Tutkijat

Organisaatiot

  • Tampere University of Technology

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut1564-1569
Sivumäärä6
JulkaisuNano Letters
Vuosikerta15
Numero3
TilaJulkaistu - 2015
OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

    Tutkimusalat

  • modeling, nonlinear imaging, radial polarization, second-harmonic generation, semiconductor

ID: 2020296