Siirry päänavigointiin Siirry hakuun Siirry pääsisältöön

Schottky diode series resistance and thermal resistance extraction from S-parameter and temperature controlled IV measurements

Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

56 Sitaatiot (Scopus)
AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut2108-2116
JulkaisuIEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques
Vuosikerta59
Numero8
TilaJulkaistu - 2011
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä

Siteeraa tätä