Schottky diode series resistance and thermal resistance extraction from S-parameter and temperature controlled IV measurements

Tero Kiuru, Juha Mallat, Antti V. Räisänen, Tapani Närhi

Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

38 Sitaatiot (Scopus)
AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut2108-2116
JulkaisuIEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques
Vuosikerta59
Numero8
TilaJulkaistu - 2011
OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

Siteeraa tätä